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CEB系列半微量电子分析天平

CEB系列半微量电子分析天平是精确、稳定、多功能与自动化一体的先进电子分析天平,为了满足实验室称量要求分度值达到十万分之一而设计,内置电磁力传感器,在保证产品高精度的基础上,同时还拥有精致外观。为了保证高性能称量单元的灵敏度,分析天平采用可伸拉式操作显示终端,避免用户在操作时对天平造成冲击和震动。


  • 品牌:

    TOB
  • 货号:

    TOB-CEB
  • 订购 (最小量):

    1台
  • 付款:

    L/C,T/T
  • 原产地:

    中国
  • 发货港口:

    厦门
产品详细信息

CEB系列半微量电子分析天平


产品规格



1:产品特点:

分体式结构设计,可拉伸式操作显示终端,减缓操作过程中产生的震动影响测量准确性。

特制304不锈钢秤量盘与防风圈设计,避免气流影响称重,保证称量稳定性。

全铝合金机身与底座,保证天平稳定性。

触摸感应式按键与高清VA液晶屏幕组合,操作省力、读数便捷

高稳定电磁力传感器,称量快速,读数准确。

双量程可切换,外校内校款可选。

密度测量功能、移液器校准功能,一机多用,功能强大。

多种单位可切换,积分时间、灵敏度可调,时间设置,满足客户个性化需求。

2:技术参数

产品型号

TOB-CEB1035

TOB-CEB2055

TOB-CEB105

TOB-CEB1055N

TOB-CEB2085N

TOB-CEB125N

输入电源

AC220V

AC220V

AC220V

AC220V

AC220V

AC220V

频率

50Hz

50Hz

50Hz

50Hz

50Hz

50Hz

功率

10W

10W

10W

10W

10W

10W

显示方式

VA液晶显示

VA液晶显示

VA液晶显示

VA液晶显示

VA液晶显示

VA液晶显示

准确度级别

Ⅰ级

Ⅰ级

Ⅰ级

Ⅰ级

Ⅰ级

Ⅰ级

量程范围(g)

0-120/0-31

0-200/0-51

0-100

0-120/0-51

0-200/0-81

0-120

分度值(mg)

0.1/0.01

0.1/0.01

0.01

0.1/0.01

0.1/0.01

0.01

去皮范围(g)

0-120/0-31

0-200/0-51

0-100

0-120/0-51

0-200/0-81

0-120

线性误差(mg)

±0.2/±0.03

±0.2/±0.03

±0.03

±0.2/±0.03

±0.2/±0.03

±0.03

重复性误差(mg)

±0.1/±0.03

±0.1/±0.03

±0.03

±0.1/±0.03

±0.1/±0.03

±0.03

稳定时间

(典型)(s)

≤3

≤3

≤3

≤3

≤3

≤3

称量单位

g,mg,oz,ct/定制

g,mg,oz,ct/定制

g,mg,oz,ct/定制

g,mg,oz,ct/定制

g,mg,oz,ct/定制

g,mg,oz,ct/定制

称量盘规格(mm)

φ90

φ90

φ90

φ90

φ90

φ90

标配砝码(g)

100

100

100

无(内校)

无(内校)

无(内校)

RS232接口

净重(Kg)

6.28

6.28

6.28

6.28

6.28

6.28

产品尺寸

(L×W×H mm)

403×220×310

403×220×310

403×220×310

403×220×310

403×220×310

403×220×310



 邮箱: tob.amy@tobmachine.com

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